冠测精电-介质损耗测试仪进口 厂家报价

 输出阻抗

 10Ω， 30Ω， 50Ω， 100Ω

 基本准确度

 0.1%

 L

 0.0001 uH ～ 9.9999kH

 C

 0.0001 pF ～ 9.9999F

 R，X，Z，DCR

 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

 显***围

 Y， B， G

 0.0001 nS ～ 99.999 S

 D

 0.0001 ～ 9.9999

 Q

 0.0001 ～ 99999

 θ

 校准功能

 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

 等效方式

 显示器

 320×240点阵图形LCD显示

 存储器

     材料介电性能试验测控系统试验报告(非接触法)

 序号

 频率

 介电常数

 介质损耗

 试样厚度(mm)

 电极直径(mm)

 1

 1KKHZ

 4.38E+00

 3.78E-03

 3.00E+00

 50

 2

 1KKHZ

 4.38E+00

 3.78E-03

 3.00E+00

 50

 3

 1KKHZ

 4.47E+00

 3.94E-03

 3.00E+00

 50

 4

 1KKHZ

 4.47E+00

 3.94E-03

 3.00E+00

 50

 5

 1KKHZ

 4.47E+00

 3.94E-03

 3.00E+00

 50

 6

 1KKHZ

 4.47E+00

 3.94E-03

 3.00E+00

 50

 接口

 LAN(LXI class C support)

 RS232C

 HANDLER

 GPIB（选件）

近十年来，介质损耗仪的功率 操作视频，半导体工业界对低介电常数材料的研究日益增多，材料的种类也五花八门。然而这些低介电常数材料能够在集成电路生产工艺中应用的速度却远没有人们想象的那么快。其主要低介电常数薄膜机械性质量测结果 原因是许多低介电常数材料并不能满足集成电路工艺应用的要求。图2是不同时期半导体工业界预计低介电常数材料在集成电路工艺中应用的前景预测。

【北京冠测精电仪器设备有限公司】专注于材料电学性能检测仪器研发10年，为客户提供***电学性能检测方案：介电强度测试仪、导体﹨半导体﹨粉体﹨绝缘体电阻率测试仪、介电常数测试仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕试验仪、电线电缆漏电起痕试验仪、阻温函数仪、介电温谱测量系统等

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四、配套清单

 序号

 名称

 数量

 单位

 1

 介损自动测试仪

 1

 台

 2

 高压输出屏蔽电缆

 1

 根

 3

 试品输入电缆

 1

 根

 4

 AC 220V/10A电源线

 1

 根

 5

 打印纸

 2

 卷

 6

 保险管5A

 4

 支

 7

 接地线

 1

 根

 8

 出厂检验报告

 1

 份

 9

 产品说明书

 1

 份

五、电极选择

  选择不同的电极测试固体和液体材料

1、固体材料电极直径分别有:38mm  50mm

100mm，随机标配一套电极100MM